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元素與物相分析

ON-3000 氧氮分析儀鋼研納克{(lán)氧氮?dú)浞治鰞x},中國(guó)氧氮?dú)浞治鰞x行業(yè)領(lǐng)跑者,1977年 研發(fā)了中國(guó)第一臺(tái)真空熔融氣體分析儀,1991年脈沖紅外定氧儀在這里實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化,率先打破國(guó)外壟斷。通過(guò)40年的技術(shù)沉積,鋼研納克氧氮?dú)浞治鰞x獲得良好的市場(chǎng)反饋和客戶認(rèn)同。ON-3000型氧氮…

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ON-3000 氧氮分析儀

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鋼研納克{(lán)氧氮?dú)浞治鰞x},中國(guó)氧氮?dú)浞治鰞x行業(yè)領(lǐng)跑者,1977年 研發(fā)了中國(guó)第一臺(tái)真空熔融氣體分析儀,1991年脈沖紅外定氧儀在這里實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化,率先打破國(guó)外壟斷。通過(guò)40年的技術(shù)沉積,鋼研納克氧氮?dú)浞治鰞x獲得良好的市場(chǎng)反饋和客戶認(rèn)同。

ON-3000型氧氮分析儀,采用脈沖加熱,紅外熱導(dǎo)檢測(cè)技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確測(cè)定鋼鐵、金屬粉末、有色金屬、陶瓷、礦產(chǎn)等全量程范圍固體無(wú)機(jī)材料中氧、氮元素的測(cè)定。

紅外檢測(cè)系統(tǒng)、熱導(dǎo)檢測(cè)系統(tǒng)和氣路系統(tǒng)核心部件采用進(jìn)口高端器件,確保了檢測(cè)的穩(wěn)定性和檢測(cè)精度。

可依據(jù)樣品氧含量,定制紅外檢測(cè)池。

具有檢測(cè)范圍寬,檢測(cè)下限低,測(cè)量過(guò)程簡(jiǎn)化,載氣單一等技術(shù)優(yōu)勢(shì)。

CS-2800 碳硫分析儀

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鋼研納克{(lán)高頻紅外碳硫分析儀},70年金屬分析經(jīng)驗(yàn),央企品牌,上市企業(yè)。致力于氣體分析儀器40年,核心部件進(jìn)口配置,檢測(cè)穩(wěn)定性和檢測(cè)精度高。簡(jiǎn)便易學(xué),分析快速,維護(hù)方便,售后無(wú)憂。

CS-2800型碳硫分析儀采用高頻加熱,紅外檢測(cè)原理,結(jié)合最新的燃燒和全量程范圍檢測(cè)技術(shù),可以同時(shí)快速分析鋼、鑄鐵、合金、水泥、沙子、玻璃、石灰、橡膠、催化劑、土壤、半導(dǎo)體、電子材料、金屬礦石、陶瓷等固體材料中的碳和硫。操作簡(jiǎn)便,維護(hù)維修方便。

紅外檢測(cè)系統(tǒng)和氣路系統(tǒng)核心部件采用進(jìn)口高端器件,確保了檢測(cè)的穩(wěn)定性和檢測(cè)精度。

可依據(jù)樣品碳硫含量,定制紅外檢測(cè)池。 

高頻發(fā)生系統(tǒng)采用專(zhuān)用高頻電容器件、無(wú)感電阻,確保高頻長(zhǎng)期工作的可靠性。

采用德國(guó)進(jìn)口專(zhuān)用外置金屬粉塵過(guò)濾裝置,易拆卸,清掃方便。

具有檢測(cè)范圍寬,檢測(cè)下限低,測(cè)量過(guò)程簡(jiǎn)化,載氣單一等技術(shù)優(yōu)勢(shì)。

日本理學(xué)MiniIFlex600臺(tái)式XRD X射線衍射儀

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新一代的第六代小型臺(tái)式X射線衍射儀是一種多用途粉末衍射分析儀器,它可以測(cè)定:結(jié)晶相識(shí)別(相位ID)和定量、%(%)結(jié)晶度、晶粒尺寸和應(yīng)變、晶格參數(shù)精煉、里特維爾德精煉和分子結(jié)構(gòu)。它廣泛用于研究,特別是材料科學(xué)和化學(xué),以及工業(yè)研究和質(zhì)量控制。

荷蘭FEI公司 Nova NanoSEM 450 FEG場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

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世界上第一款可以對(duì)有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)行超高分辨表征的低真空?qǐng)霭l(fā)射掃描電子顯微鏡(FEG-SEM)。作為FEI公司引領(lǐng)市場(chǎng)的眾多設(shè)備中最新的一員,Nova NanoSEM為用戶在納米研究、開(kāi)發(fā)與生產(chǎn)的相關(guān)工作提供了更多的可能。 

Nova NanoSEM的出現(xiàn)為那些非導(dǎo)電的以及有污染的納米材料研究和開(kāi)發(fā)者們帶來(lái)了新的表征手段。與NanoSEM同時(shí)發(fā)布的FEI Helix探測(cè)技術(shù)將浸入式透鏡和低真空掃描電鏡兩種技術(shù)成功地組合在一起,這在場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的歷史上還是第一次。在給用戶帶來(lái)超高分辨率的同時(shí),還能在低真空環(huán)境下有效地抑制非導(dǎo)電材料的電荷積累效應(yīng)。Nova NanoSEM的這種新技術(shù)還可以有效地抑制由前道樣品處理過(guò)程所引起的電子束誘導(dǎo)污染。 

除了低真空條件下二次電子和背散射電子成像以外,Nova NanoSEM還具有浸入式透鏡的技術(shù)和FEI所特有的使用電子束進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)沉積的氣體化學(xué)技術(shù),所有的這些特點(diǎn)使之成為納米結(jié)構(gòu)與納米材料研究領(lǐng)域中最先進(jìn)、最理想的掃描電鏡。


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